ПЕРЕД ПОКУПКОЙ ПРОВЕРЬТЕ ВОПРОСЫ ПРЕДСТАВЛЕННЫЕ В ОГЛАВЛЕНИИ.
Внимание!!! Если при сдачи теста у вас возникли проблемы с ответами, сразу пишите в личные сообщения. Мы постараемся решить Вашу проблему.
ИМЕЕТСЯ БОЛЬШОЕ КОЛИЧЕСТВО ОТВЕТОВ ПО ВСЕМ ВОПРОСАМ ПИСАТЬ В ЛИЧКУ
Вопрос
Единица производной физической величины системы единиц, образованная в соответствии с уравнением, связывающим ее с основными единицами, называется:
Единица производной физической величины системы единиц, образованная в соответствии с уравнением, связывающим ее с основными единицами, называется:
Единица производной физической величины системы единиц, образованная в соответствии с уравнением, связывающим ее с основными единицами, называется:
Единица производной физической величины системы единиц, образованная в соответствии с уравнением, связывающим ее с основными единицами, называется:
Показатель степени, в которую возведена размерность основной физической величины, входящей в размерность производной физической величины, называется:
Показатель степени, в которую возведена размерность основной физической величины, входящей в размерность производной физической величины, называется:
Показатель степени, в которую возведена размерность основной физической величины, входящей в размерность производной физической величины, называется:
Показатель степени, в которую возведена размерность основной физической величины, входящей в размерность производной физической величины, называется:
Единица количества вещества:
Единица количества вещества:
Единица количества вещества:
Единица количества вещества:
Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется:
Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется:
Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется:
Символьное обозначение зависимости производных величин от основных, называется:
Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются:
Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются:
Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются:
Измерения, проводимые косвенным методом, при котором искомое значение физической величины определяется на основании результатов прямых измерений других физических величин, функционально связанных с искомой величиной, называются:
Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется:
Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется:
Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется:
Вторичный эталон, предназначенный для проверки сохранности и неизменности государственного эталона и для замены его в случае порчи или утраты, называется:
Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется:
Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется:
Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется:
Способ измерение проводится дважды так, чтобы неизвестная по размеру погрешность входила в результаты с противоположными знаками, называется:
Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора:
Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора:
Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора:
Каких не существует средств измерений длин и углов в зависимости от физического принципа, положенного в основу построения измерительного преобразователя прибора:
Нормируемые метрологические характеристики средств измерений установлены в документе:
Нормируемые метрологические характеристики средств измерений установлены в документе:
Нормируемые метрологические характеристики средств измерений установлены в документе:
Нормируемые метрологические характеристики средств измерений установлены в документе:
Для зеленого света λ = 500 нм = 5 · 10d5 см, частота колебаний составляет:
Для зеленого света λ = 500 нм = 5 · 10d5 см, частота колебаний составляет:
Для зеленого света λ = 500 нм = 5 · 10d5 см, частота колебаний составляет:
Для зеленого света λ = 500 нм = 5 · 10d5 см, частота колебаний составляет:
Погрешность определения для эмиссионной спектроскопии составляет:
Погрешность определения для эмиссионной спектроскопии составляет:
Погрешность определения для эмиссионной спектроскопии составляет:
Погрешность определения для эмиссионной спектроскопии составляет:
Атом, ион или молекула, поглощая квант света, переходит в более:
Атом, ион или молекула, поглощая квант света, переходит в более:
Атом, ион или молекула, поглощая квант света, переходит в более:
Атом, ион или молекула, поглощая квант света, переходит в более:
Светопоглощение описывается законом:
Светопоглощение описывается законом:
Светопоглощение описывается законом:
Светопоглощение описывается законом:
Какой закон описывает зависимость светопоглощения от концентрации раствора
Какой закон описывает зависимость светопоглощения от концентрации раствора
Какой закон описывает зависимость светопоглощения от концентрации раствора
Какой закон описывает зависимость светопоглощения от концентрации раствора
Мера чувствительности фотометрических метод называется:
Мера чувствительности фотометрических метод называется:
Мера чувствительности фотометрических метод называется:
Мера чувствительности фотометрических метод называется:
Метод абсорбционной спектроскопии, в котором используется видимая область электромагнитного излучения (400–760 нм), называется:
Метод абсорбционной спектроскопии, в котором используется видимая область электромагнитного излучения (400–760 нм), называется:
Метод абсорбционной спектроскопии, в котором используется видимая область электромагнитного излучения (400–760 нм), называется:
Метод абсорбционной спектроскопии, в котором используется видимая область электромагнитного излучения (400–760 нм), называется:
Количественный анализ основан на эмпирической зависимости интенсивности спектральной линии определяемого элемента от его концентрации в пробе, которая описывается уравнением:
Количественный анализ основан на эмпирической зависимости интенсивности спектральной линии определяемого элемента от его концентрации в пробе, которая описывается уравнением:
Количественный анализ основан на эмпирической зависимости интенсивности спектральной линии определяемого элемента от его концентрации в пробе, которая описывается уравнением:
Количественный анализ основан на эмпирической зависимости интенсивности спектральной линии определяемого элемента от его концентрации в пробе, которая описывается уравнением:
Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию линии определяемого элемента в:
Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию линии определяемого элемента в:
Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию линии определяемого элемента в:
Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию линии определяемого элемента в:
Метод разделения сложных смесей, основанный на распределении веществ между двумя фазами, одна из которых не подвижна, а другая поток, движущийся через неподвижную пару, называется:
Метод разделения сложных смесей, основанный на распределении веществ между двумя фазами, одна из которых не подвижна, а другая поток, движущийся через неподвижную пару, называется:
Метод разделения сложных смесей, основанный на распределении веществ между двумя фазами, одна из которых не подвижна, а другая поток, движущийся через неподвижную пару, называется:
Метод разделения сложных смесей, основанный на распределении веществ между двумя фазами, одна из которых не подвижна, а другая поток, движущийся через неподвижную пару, называется:
Какой метод основан на определении масс ионизированных атомов, молекул после их разделения в результате комбинированного действия электрических и магнитных полей:
Какой метод основан на определении масс ионизированных атомов, молекул после их разделения в результате комбинированного действия электрических и магнитных полей:
Какой метод основан на определении масс ионизированных атомов, молекул после их разделения в результате комбинированного действия электрических и магнитных полей:
Какой метод основан на определении масс ионизированных атомов, молекул после их разделения в результате комбинированного действия электрических и магнитных полей:
Инструментальные методы анализа позволяют:
Инструментальные методы анализа позволяют:
Инструментальные методы анализа позволяют:
Инструментальные методы анализа позволяют:
К спектроскопическим методам не относится:
К спектроскопическим методам не относится:
К спектроскопическим методам не относится:
К спектроскопическим методам не относится:
Метод основанный на измерении длины волны, интенсивности и других характеристик света, излучаемого атомами или ионами вещества в газообразном состоянии, называется:
Метод основанный на измерении длины волны, интенсивности и других характеристик света, излучаемого атомами или ионами вещества в газообразном состоянии, называется:
Метод основанный на измерении длины волны, интенсивности и других характеристик света, излучаемого атомами или ионами вещества в газообразном состоянии, называется:
Метод основанный на измерении длины волны, интенсивности и других характеристик света, излучаемого атомами или ионами вещества в газообразном состоянии, называется:
Участок спектра, определенный интервалом волн 10-2 – 10 нм, называется:
Участок спектра, определенный интервалом волн 10-2 – 10 нм, называется:
Участок спектра, определенный интервалом волн 10-2 – 10 нм, называется:
Участок спектра, определенный интервалом волн 10-2 – 10 нм, называется:
Уравнение I=ac^b – носит название:
Уравнение I=ac^b – носит название:
Уравнение I=ac^b – носит название:
Уравнение I=ac^b – носит название:
Показатель преломления газов измеряют газовыми:
Показатель преломления газов измеряют газовыми:
Показатель преломления газов измеряют газовыми:
Показатель преломления газов измеряют газовыми:
Продолжить фразу: «Поскольку спектральная плотность светового потока зависит от частоты и …»
Продолжить фразу: «Поскольку спектральная плотность светового потока зависит от частоты и …»
Продолжить фразу: «Поскольку спектральная плотность светового потока зависит от частоты и …»
Продолжить фразу: «Поскольку спектральная плотность светового потока зависит от частоты и …»
Определённое из наклона этой прямой Ut(ν) значение постоянной Планка равно 3,74 ⋅ 10–34 Дж⋅с, такое снижение возможно из-за:
Определённое из наклона этой прямой Ut(ν) значение постоянной Планка равно 3,74 ⋅ 10–34 Дж⋅с, такое снижение возможно из-за:
Определённое из наклона этой прямой Ut(ν) значение постоянной Планка равно 3,74 ⋅ 10–34 Дж⋅с, такое снижение возможно из-за:
Определённое из наклона этой прямой Ut(ν) значение постоянной Планка равно 3,74 ⋅ 10–34 Дж⋅с, такое снижение возможно из-за:
При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется
При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется
При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется
При рассмотрении разрешающей способности фотоэмиссионного метода следует различать аппаратурную разрешающую способность R, которая определяется