При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны 700 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы).

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Просмотров
27
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
3 Окт в 13:16
ВУЗ
Не указан
Курс
Не указан
Стоимость
50 ₽
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
doc
x63155
25 Кбайт 50 ₽
Описание

При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны 700 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы).

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
22 Ноя в 14:22
5 +5
0 покупок
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
22 Ноя в 14:22
4 +4
0 покупок
Другие работы автора
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир