На тонкую пленку в направлении нормали к её поверхности падает свет с длиной волны 750 нм. Отраженный от неё свет максимально усилен вследствие интерференции. Определить минимальную толщину пленки, если показатель преломления материала пленки равен

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Просмотров
23
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
16 Авг 2024 в 17:13
ВУЗ
Не указан
Курс
Не указан
Стоимость
90 ₽
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
docx
На тонкую пленку в направлении нормали к её поверхности падает свет с длиной волны λ = 750 нм. Отраженный от неё свет максимально усилен вследствие интерференции. Определить минимальную толщину пленки, есл
21.1 Кбайт 90 ₽
Описание

На тонкую пленку в направлении нормали к её поверхности падает свет с длиной волны 750 нм. Отраженный от неё свет максимально усилен вследствие интерференции. Определить минимальную толщину пленки, если показатель преломления материала пленки равен n = 1,8.

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Другие работы автора
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
17 Янв в 14:08
43 +3
0 покупок
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
17 Янв в 14:07
29 +4
0 покупок
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
17 Янв в 14:06
50 +8
0 покупок
Геология
Контрольная работа Контрольная
9 Янв в 18:39
94 +2
0 покупок
ТОЭ - Теоретические основы электротехники
Лабораторная работа Лабораторная
9 Янв в 12:30
55 +4
0 покупок
ТОЭ - Теоретические основы электротехники
Контрольная работа Контрольная
9 Янв в 12:23
71 +2
0 покупок
Основания и фундаменты
Контрольная работа Контрольная
9 Янв в 11:21
84 +1
0 покупок
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир