(ТОГУ Физика) При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=467 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Тип
Просмотров
215
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
27 Ноя 2023 в 16:00
ВУЗ
ТОГУ
Курс
Не указан
Стоимость
50 ₽
Демо-файлы   
1
png
вопрос вопрос
36.3 Кбайт 36.3 Кбайт
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
png
ответ
41 Кбайт 50 ₽
Описание

При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=467 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины решетки равно

(рисунок - в демо-файлах)

Ответ:

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Физика
Лабораторная работа Лабораторная
22 Дек в 17:27
17 +17
0 покупок
Физика
Тест Тест
21 Дек в 16:43
19 +19
0 покупок
Другие работы автора
Высшая математика
Тест Тест
20 Дек в 12:39
110 +15
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
20 Дек в 12:25
83 +5
0 покупок
Схемотехника
Тест Тест
17 Дек в 04:21
97 +1
0 покупок
Схемотехника
Тест Тест
17 Дек в 04:15
108 +1
0 покупок
Схемотехника
Тест Тест
17 Дек в 04:12
97 +2
0 покупок
Схемотехника
Тест Тест
17 Дек в 04:09
140 +2
0 покупок
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир