(ТОГУ Физика) При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Тип
Просмотров
33
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
27 Ноя 2023 в 06:59
ВУЗ
ТОГУ
Курс
Не указан
Стоимость
50 ₽
Демо-файлы   
1
png
вопрос вопрос
36.3 Кбайт 36.3 Кбайт
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
png
ответ
41.1 Кбайт 50 ₽
Описание

При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины решетки равно

(рисунок - в демо-файлах)

Ответ:

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Другие работы автора
Высшая математика
Тест Тест
26 Июн в 07:46
3 +3
0 покупок
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир