(ТОГУ Физика) При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины

Раздел
Естественные дисциплины
Предмет
Тип
Просмотров
56
Покупок
0
Антиплагиат
Не указан
Размещена
27 Ноя 2023 в 06:59
ВУЗ
ТОГУ
Курс
Не указан
Стоимость
50 ₽
Демо-файлы   
1
png
вопрос вопрос
36.3 Кбайт 36.3 Кбайт
Файлы работы   
1
Каждая работа проверяется на плагиат, на момент публикации уникальность составляет не менее 40% по системе проверки eTXT.
png
ответ
41.1 Кбайт 50 ₽
Описание

При дифракции на дифракционной решетке наблюдается зависимость интенсивности излучения с длиной волны λ=521 нм от синуса угла дифракции, представленная на рисунке (изображены только главные максимумы). Количество штрихов 1мм на длины решетки равно

(рисунок - в демо-файлах)

Ответ:

Вам подходит эта работа?
Похожие работы
Другие работы автора
История
Тест Тест
14 Ноя в 14:29
17 +1
0 покупок
Информатика
Тест Тест
14 Ноя в 14:22
15 +1
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
6 Ноя в 12:45
66 +1
0 покупок
Высшая математика
Тест Тест
6 Ноя в 12:42
111
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
6 Ноя в 02:24
43 +1
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
6 Ноя в 02:23
56
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
6 Ноя в 02:22
96
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
6 Ноя в 02:21
34
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
5 Ноя в 23:08
51
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
5 Ноя в 23:06
32
0 покупок
Системы автоматизированного проектирования
Тест Тест
5 Ноя в 23:05
43
0 покупок
Темы журнала
Показать ещё
Прямой эфир