Проектирование интегральных микросхем кр

Контрольная работа 1 на стр. 10 в файле "Проек-ние ИМиМП_УМП.pdf"
Вариант 1
Предлагается выполнить задание по оценке параметров полупроводниковых слоёв. Оценке подлежат следующие параметры:
– напряжение пробоя, В;
– удельная ёмкость изоляции слоя, Ф/см2;
– поверхностное сопротивление слоя, Ом.
В отчёте по контрольной работе следует привести:
– номер варианта задания;
– рисунок структуры с анализируемым слоем с простановкой размеров, концентраций, типа проводимости и закона распределения примесей в слое;
– мотивированную оценку параметров слоя.
Далее - см. стр. 10 файл "Проек-ние ИМиМП_УМП.pdf"
Другие два файла - учебное пособие по предмету (на всякий случай)