10. Определить интенсивность отказов интегральной микросхемы (ИМС) в интервале времени работы от 1800 ч. до 2600 ч., если из 200 ИМС, поставленных на испытания, 1800 ч. до отказа проработала одна ИМС, 2000 ч. - две, 2200 ч. - четыре, 2400 ч. - две, 2600 ч. - одна.